Zum Hauptinhalt springen

Very-Large-Scale Integration

Ho Yeap, Kim ; Nisar, Humaira
IntechOpen; IntechOpen, 2018
Online E-Book - 160

Titel:
Very-Large-Scale Integration
Autor/in / Beteiligte Person: Ho Yeap, Kim ; Nisar, Humaira
Link:
Veröffentlichung: IntechOpen; IntechOpen, 2018
Medientyp: E-Book
Umfang: 160
ISBN: 978-953-51-3864-8 (print) ; 978-953-51-3863-1 (print) ; 978-953-51-3978-2 (print)
DOI: 10.5772/65525
Schlagwort:
  • thin films, laser ablation, magnetron sputtering, design, stability
  • thema EDItEUR:T Technology, Engineering, Agriculture, Industrial processes:TJ Electronics and communications engineering:TJF Electronics engineering:TJFC Electronics: circuits and components
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: Directory of Open Access Books
  • Sprachen: English
  • Document Type: eBook
  • File Description: image/jpeg
  • Language: English
  • Rights: URL: https://creativecommons.org/licenses/by/3.0/
  • Notes: ONIX_20231201_9789535138648_1608

Klicken Sie ein Format an und speichern Sie dann die Daten oder geben Sie eine Empfänger-Adresse ein und lassen Sie sich per Email zusenden.

oder
oder

Wählen Sie das für Sie passende Zitationsformat und kopieren Sie es dann in die Zwischenablage, lassen es sich per Mail zusenden oder speichern es als PDF-Datei.

oder
oder

Bitte prüfen Sie, ob die Zitation formal korrekt ist, bevor Sie sie in einer Arbeit verwenden. Benutzen Sie gegebenenfalls den "Exportieren"-Dialog, wenn Sie ein Literaturverwaltungsprogramm verwenden und die Zitat-Angaben selbst formatieren wollen.

xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -