1．3μm InGaAsP／InP RWG型激光器的可靠性

吴振英 ; 吴桐 ; et al.

In: Guangtongxin yanjiu, 1994, S. 0

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通过对１．３μｍＩｎＧａＡｓＰ／ＩｎＰＲＷＧ型激光器的加速老化寿命试验，证明了此种结构激光器的可靠性，它在环境温度为５０℃、１００ｍＡＣＷ及环境温度为８０℃、１００ｍＡＣＷ的条件下加速老化，经过３２２０ｈ的实际测试共计１９３２００器件小时，在测试过程中没有一支器件失效。在这样的条件下其５０℃下的外推寿命ＭＴＴＦ为２０万ｈ，其统计标准偏差为σ＝１．０１６；８０℃下的外推寿命ＭＴＴＦ为３．８万ｈ，其统计标准偏差为σ＝０．８０４，从而推算出该结构激光器的退化激活能Ｅａ＝０．５４３ｅＶ，其２５℃下的寿命ＭＴＴＦ为１０３万ｈ。

Titel:	1．3μm InGaAsP／InP RWG型激光器的可靠性
Autor/in / Beteiligte Person:	吴振英 ; 吴桐 ; 胡常炎 ; 刘自力 ; 李蓉萍 ; 王淑琴 ; 赵俊英
Link:	View record in DOAJ (Volltext) http://www.gtxyj.com.cn/thesisDetails?columnId=27502870&Fpath=home&index=0 https://doaj.org/toc/1005-8788
Zeitschrift:	Guangtongxin yanjiu, 1994, S. 0
Veröffentlichung:	《光通信研究》编辑部, 1994
Medientyp:	academicJournal
ISSN:	1005-8788 (print)
Schlagwort:	半导体激光器可靠性 Applied optics. Photonics TA1501-1820
Sonstiges:	Nachgewiesen in: Directory of Open Access Journals Sprachen: Chinese Collection: LCC:Applied optics. Photonics Document Type: article File Description: electronic resource Language: Chinese

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